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LIS100 產品簡介

 

全面式(CCD式)輝度分佈檢測系統

Luminance Inspection System (LIS100)

 

最便利的輝度分佈檢測系統

 

High Speed、Fully Inspection、Cost Efficiency

 

LIS100
全面式輝度分佈檢測系統

採用美國Optronics 兩百萬畫素高解像力CCD,大尺寸高解析的CCD感測器,能夠讓各種光學輝度分佈精準呈現, 輝度分佈色彩圖搭配光學設計軟體,是光學產品設計研發的最佳檢測利器。

適用於LCD、背光模組、手機鍵盤或各種Film材等產品之光學輝度分佈或MURA Test的快速檢測 ,是輝度計最佳的代用品。

是輝度計最佳的代用品,即便是數百點的輝度量測,都可在數秒內完成,若搭配輝度計使用,更可得到精準的量測數值。

 

LIS100 全面式輝度分佈檢測系統

 

 

LIS100 功能介紹

1. 16bit的高解析度

高解析16bit的影像規格,每個資料都具備65536Gray Scale高解析值,可針對微小的輝度差異進行檢測。

可開啟即時預覽視窗,便於影像對焦與樣品位置擺放,並可開啟量測區域建議方框與最佳亮度偵測畫面。

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2. 自動定位量測

針對面板發光面,自動追蹤定位量測。面板可任意放置,系統會自行修正發光面位置與角度。

只要設定好面板發光區邊沿距離與量測直徑,系統便會自動追蹤發光區,自動定位進行輝度相關量測。

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3. 多種均勻性量測

可自行設定多點均勻性量測,如10*10(100)量測,最大可到20*20(400)量測。

也可選擇一般常用的13點均勻性量測。搭配自動定位量測功能,操作快速簡便。

4. 自訂均勻性量測順序

可自行決定均勻性量測的順序,如左上到右下或右上到左下。

 
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5. 輝度分佈色彩圖(輝度等高線圖)

可選擇多種色差分佈設定,清楚呈現輝度明暗分佈狀況。

利用最高100種色差分佈的方式,可清楚的呈現輝度分佈的細微差異,讓檢測者一目瞭然明暗輝度的分佈狀況。

 
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6. 輝度分佈斷面圖(輝度剖面圖)

可選擇水平輝度斷面圖或垂直輝度斷面圖,也可任意自訂輝度偵測位置,利用輝度強弱波形呈現出輝度分佈差異.

7. 輝度分佈波形圖

可將整張影像的輝度強弱分佈差異,利用波形圖呈現出來。並可顯示出相關統計值,如最大值、最小值、平均值、標準差等等。

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8. 輝度分佈3D顯示圖

可將平面的輝度明暗分佈,轉換成3D的方式來呈現。

 

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9. 間隔時間自動化測定

可設定量測間隔時間與次數,系統會針對時間設定進行自動測定,可用於面板穩定性測試、暖機時間測試與輝度自動化測定等應用。

10. 輝度計校正功能

可針對輝度計量測值進行補正,是輝度計最佳的替代性量測工具,搭配輝度計使用,可達到全面且快速的量測需求。
Topcon BM7A等輝度計。

   

 

 
 

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