TOPCON 輝度計 / 照度計 / 紫外光強度計

產品服務專線:04-27080265 / 台中
02-89924292 台北


 

Spectroradiometer | TOPCON

TOPCON SR-NIR 分光式輝度計(近紅外線)

High-accuracy measuring with spectrometry for near-infrared region 600-1030nm.

 

產品簡介 / TOPCON SR-NIR

近年來,在顯示器及照明市場上對近紅外光波長應用的測定需求日漸增多。Topcon在通過開發生產SR系列分光輻射度計所培育並累積起來的技術基礎之上,開發出了一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的SR-NIR近紅外分光輻射度計,可以和其他型號的SR系列分光輻射度計一併使用,能夠測定380nm-1030nm的分光輻射輝度。

產品特色 / TOPCON-NIR

  • 能測定從FPD到微弱發光的近紅外領域。
     
  • 高精度測定近紅外領域(600~1030nm)的分光分佈。
     
  • 和本公司其他型號的分光輻射度計一併使用時,能夠測定可見光~近紅外光(380~1030nm)的分光分佈。

主要用途 / TOPCON SR-NIR

  • 觀察各類FPD的近紅外領域的輸出
  • 觀察Ne、Ar的光譜線輸出
  • 光學膜等的近紅外透過特性評價
  • 其他光源的近紅外分光測量。

產品規格 / TOPCON SR-NIR

感光元件 電子冷卻型線性陣列傳感器
波長分散原理 衍射光柵
測定角 2°/1°/0.2°/0.1° *電動切換式
最小測定直徑(mmφ) 2°:10.0 , 1°:4.99     0.2°:1.00 ,  0.1°:0.50(mmφ)
測定距離 350mm - ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離)
光譜波寬 6 - 8nm (半波寬)
波長精度 ±0.3nm *Hg 光譜線上
測定波長范圍 600 - 1030nm
波長分解能力 1nm
測定模式 自動/手動(積分時間/頻率)、外部垂直同步信號輸入
測定內容 分光輻射亮度 : W・sr-1・m-2・nm-1
測定範圍(*1) 2.0° : 0.5 - 3,000, 1.0° : 1 - 9,000
0.2° : 20 - 70,000, 0.1° : 100 - 300,000
重複精度(*2) ±2%以内
偏光特性 分光輻射亮度5% 以下
校正基準 本公司校正基準*標準A光源、23℃±3℃、65% RH以下
測定時間(*3) 約1 - 31 秒
界面 USB2.0 / RS-232C
電源 專用AC 電源適配器AC100V-240V, 50/60Hz,
功率 約34W
使用條件 溫度: 5 - 30℃, 濕度: 80%RH 以下(且無凝露)
外形尺寸(W×D×H) 150×406×239mm
重量 5.5kg

(*1) : 本產品不測定亮度。記錄針對標準A光源的參考值

(*2) : 600~1030nm針對本公司基準光源

(*3) : E和PC的通信時間除外

測定直徑(mm φ)

(mmφ)
測定角 測定距離(*1)
350mm 500mm 800mm 1000mm 2000mm
10 15.1 25.4 32.2 66.4
4.99 7.55 12.7 16.1 33.2
0.2° 1.00 1.51 2.54 3.22 6.64
0.1° 0.50 0.76 1.27 1.61 3.32

(*1) : 從物鏡金屬件前端開始的距離

選配件

  • 輔助鏡
: AL-6/AL-11/AL-12
  • 標準白色板
: WS-3
  • 導光束
: FP-3P
  • 三腳架
: Tripod5N
  • 三腳架
: Tripod-SR
  • 微動台
: S-4
  • CCD 接口
: IA-2

search_offcanvas

X

Right Click

禁止任意複製或拷貝網站內容!