功能完整的影像掃圖系統
CIAS清潔度影像分析系統整合金相顯微鏡、高精度電動載物台與高階數位相機,請參考下方產品系統圖。
軟體設備
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Cleanliness Image Analysis Software
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硬體設備
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光學顯微鏡
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數位相機
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自動載物台
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分析目標
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濾紙
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針對濾紙掃圖拍照,只需要於操作介面上設定左上與右下兩個位置,便可以將整片濾紙自動掃圖拍照與影像依序存檔。
設定好掃圖區域後,系統會自動計算所需跑位的影像張數,並以圖像化界面呈現出結果。
多種掃圖模式可供選擇
本系統提供多種掃圖跑位模式,如最常見的順向掃圖法(由左到右)、隨機跑位掃圖法與最有效率的之字形掃圖法。
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拚圖影像背景校正功能
拚圖影像之間的光源亮度不均問題除了會影響檢視觀察,同時也會影響微粒子物件判定的結果。
透過影像背景校正功能,可減少每張影像光源不均的現象,如此便可以避免影像交接區域明顯色差的問題產生。
以下圖2X2拼圖為例,尚未進行背景校正時,其拼圖影像交接區域會有明顯的亮度不均現象。
經由影像背景校正功能後,就可以很明顯的改善光源不均的問題,此功能對於需要大範圍掃圖的清潔度影像分析應用尤為重要。
上圖為背景校正前: 下圖為背景校正後:
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簡單易用的物件參數設定
依據清潔度量測規範,可設定微粒子最大長軸(最大維度)作為分析條件,系統會依據設定的過濾條件進行微粒子的量測與計數,設定條件可以存檔,以利後續使用。
另外,可以利用半徑比值作為型態過濾的依據,藉此可以針對比較圓的微粒子進行分析量測。
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獨立的掃圖分析模式
只要加購一套掃圖拍照系統,便可以將清潔度影像分析功能與掃圖拍照功能獨立分開。
一台電腦負責清潔度影像分析,一台電腦負責掃圖拍照,如此就可以讓清潔度影像分析系統達到最有效率的分析應用。
清潔度影像分析操作極為簡單,只需選擇影像放置目錄與相關設定,系統便會自動進行清潔度影像分析程序。
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視覺化的分析結果呈現
清潔度影像分析的結果會以圖形化視覺化的方式呈現,系統會自動拼圖產生濾紙全圖影像,如下圖:
點選濾紙全圖影像上的任一位置,便會開啟對應的局部放大影像,以利檢測與分析。
每個微粒子都會以矩形外框作為標註,並且因應不同的條件設定,用不同的顏色來標註。
綠色外框:一般微粒子物件 藍色外框:最大微粒子物件 洋紅色外框:纖維微粒子物件
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分析結果可以再手動編輯或修改
分析後的結果可以再進行手動編輯與修改,功能包含新增物件、合併物件與刪除物件。
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分析數據會依據清潔度規範即時呈現
清潔度分析數據會自動依據清潔度規範所列條件呈現,如 ISO 16232 規範可自行選擇面積或體積作為計量依據,系統會依據Size Class (B~K) 進行分類,自動計算出每個Size Range的微粒子總數,並自動產生Component Cleanliness Code (CCC)。
也可設定是否自動扣除纖維物件,系統會自動計算扣除後的總數量與更新微粒子最大物件。
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完整的報表匯出內容
系統會依據報表設定路徑,將清潔度分析結果自動套表,匯出至Excel產生報表。
報表內容詳列清潔度規範所需項目,操作者只需依據不同欄位填入相關內容,便可以簡單且快速地完成清潔度分析報告
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