LIS100
全面式輝度分佈檢測系統
採用美國Optronics 兩百萬畫素高解像力CCD，大尺寸高解析的CCD感測器，能夠讓各種光學輝度分佈精準呈現， 輝度分佈色彩圖搭配光學設計軟體，是光學產品設計研發的最佳檢測利器。

適用於ＬＣＤ、背光模組、手機鍵盤或各種Film材等產品之光學輝度分佈或MURA Test的快速檢測 ，是輝度計最佳的代用品。

是輝度計最佳的代用品，即便是數百點的輝度量測，都可在數秒內完成，若搭配輝度計使用，更可得到精準的量測數值。

1. 16bit的高解析度

高解析16bit的影像規格，每個資料都具備65536的Gray Scale高解析值，可針對微小的輝度差異進行檢測。

可開啟即時預覽視窗，便於影像對焦與樣品位置擺放，並可開啟量測區域建議方框與最佳亮度偵測畫面。

2. 自動定位量測

針對面板發光面，自動追蹤定位量測。面板可任意放置，系統會自行修正發光面位置與角度。

只要設定好面板發光區邊沿距離與量測直徑，系統便會自動追蹤發光區，自動定位進行輝度相關量測。

3. 多種均勻性量測

可自行設定多點均勻性量測，如10*10(100點)量測，最大可到20*20(400點)量測。

也可選擇一般常用的１３點均勻性量測。搭配自動定位量測功能，操作快速簡便。

4. 自訂均勻性量測順序

可自行決定均勻性量測的順序，如左上到右下或右上到左下。

５. 輝度分佈色彩圖(輝度等高線圖)

可選擇多種色差分佈設定，清楚呈現輝度明暗分佈狀況。

利用最高100種色差分佈的方式，可清楚的呈現輝度分佈的細微差異，讓檢測者一目瞭然明暗輝度的分佈狀況。

６. 輝度分佈斷面圖(輝度剖面圖)

可選擇水平輝度斷面圖或垂直輝度斷面圖，也可任意自訂輝度偵測位置,利用輝度強弱波形呈現出輝度分佈差異.

７. 輝度分佈波形圖

可將整張影像的輝度強弱分佈差異，利用波形圖呈現出來。並可顯示出相關統計值，如最大值、最小值、平均值、標準差等等。

８. 輝度分佈3D顯示圖

可將平面的輝度明暗分佈，轉換成3D的方式來呈現。

９. 間隔時間自動化測定

可設定量測間隔時間與次數，系統會針對時間設定進行自動測定，可用於面板穩定性測試、暖機時間測試與輝度自動化測定等應用。

10. 輝度計校正功能

可針對輝度計量測值進行補正，是輝度計最佳的替代性量測工具，搭配輝度計使用，可達到全面且快速的量測需求。
如Topcon BM7A等輝度計。