功能完整的影像扫图系统
CIAS清洁度影像分析系统整合金相显微镜、高精度电动载物台与高阶数位相机,请参考下方产品系统图。
软体设备
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Cleanliness Image Analysis Software
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硬体设备
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光学显微镜
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数位相机
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自动载物台
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分析目标
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滤纸
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针对滤纸扫图拍照,只需要于操作介面上设定左上与右下两个位置,便可以将整片滤纸自动扫图拍照与影像依序存档。
设定好扫图区域后,系统会自动计算所需跑位的影像张数,并以图像化界面呈现出结果。
多种扫图模式可供选择
本系统提供多种扫图跑位模式,如最常见的顺向扫图法(由左到右)、随机跑位扫图法与最有效率的之字形扫图法。
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拚图影像背景校正功能
拚图影像之间的光源亮度不均问题除了会影响检视观察,同时也会影响微粒子物件判定的结果。
透过影像背景校正功能,可减少每张影像光源不均的现象,如此便可以避免影像交接区域明显色差的问题产生。
以下图2X2拼图为例,尚未进行背景校正时,其拼图影像交接区域会有明显的亮度不均现象。
经由影像背景校正功能后,就可以很明显的改善光源不均的问题,此功能对于需要大范围扫图的清洁度影像分析应用尤为重要。
上图为背景校正前: 下图为背景校正后:
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简单易用的物件参数设定
依据清洁度量测规范,可设定微粒子最大长轴(最大维度)作为分析条件,系统会依据设定的过滤条件进行微粒子的量测与计数,设定条件可以存档,以利后续使用。
另外,可以利用半径比值作为型态过滤的依据,藉此可以针对比较圆的微粒子进行分析量测。
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独立的扫图分析模式
只要加购一套扫图拍照系统,便可以将清洁度影像分析功能与扫图拍照功能独立分开。
一台电脑负责清洁度影像分析,一台电脑负责扫图拍照,如此就可以让清洁度影像分析系统达到最有效率的分析应用。
清洁度影像分析操作极为简单,只需选择影像放置目录与相关设定,系统便会自动进行清洁度影像分析程序。
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视觉化的分析结果呈现
清洁度影像分析的结果会以图形化视觉化的方式呈现,系统会自动拼图产生滤纸全图影像,如下图:
点选滤纸全图影像上的任一位置,便会开启对应的局部放大影像,以利检测与分析。
每个微粒子都会以矩形外框作为标注,并且因应不同的条件设定,用不同的颜色来标注。
绿色外框:一般微粒子物件 蓝色外框:最大微粒子物件 洋红色外框:纤维微粒子物件
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分析结果可以再手动编辑或修改
分析后的结果可以再进行手动编辑与修改,功能包含新增物件、合并物件与删除物件。
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分析数据会依据清洁度规范即时呈现
清洁度分析数据会自动依据清洁度规范所列条件呈现,如 ISO 16232 规范可自行选择面积或体积作为计量依据,系统会依据Size Class (B~K) 进行分类,自动计算出每个Size Range的微粒子总数,并自动产生Component Cleanliness Code (CCC)。
也可设定是否自动扣除纤维物件,系统会自动计算扣除后的总数量与更新微粒子最大物件。
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完整的报表汇出内容
系统会依据报表设定路径,将清洁度分析结果自动套表,汇出至Excel产生报表。
报表内容详列清洁度规范所需项目,操作者只需依据不同栏位填入相关内容,便可以简单且快速地完成清洁度分析报告
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