壓電物鏡定位器/掃描儀 | 高精度奈米定位技術
NanoScan SP Z 系列 壓電 Z 軸平台
高速、高精度奈米定位解決方案,適用於各類顯微鏡應用
產品介紹
INTRODUCTION >> PRIOR H116
ProScan H116顯微鏡電動平台適用於各種半導體材料如晶圓(Wafer)、光罩(Photo Mask)、平面顯示器(FPD, Flat Panel Displays)與印刷電路板(PCB, Printed Circuit Board)等大型樣品的定位(Mapping)、檢查(Inspection)與瑕疪檢測(Defect Detection)等高階半導體材料的座標跑位、定位與掃瞄應用。
此外,H116顯微鏡電動平台可輕鬆滿足12英寸(300毫米)晶圓的移動行程需求,並可進一步整合機器人手臂(Robot Arm)與晶圓裝載機(Wafer Loaders)達成晶圓自動化取放片的工作目標。
通過將電動平台整合到ProScan™系統中,使用者可以獲得功能強大、精確和多功能的顯微鏡自動化控制系統,該系統還以可將各種不同的顯微鏡、影像分析軟體或其他顯微鏡周邊電控配件進行整合。
Prior電動台系列產品可提供最長五年的原廠保固 (請來電洽詢)
產品特色
FEATURES>> NanoScan SP Z 系列
- 移動範圍選擇從 200 μm 到 800 μm
- 提供市場領先的電容式定位感測器解析度
- Step settle times小於 10 毫秒
- 可承載負載高達 500g(可依需求提供更高負載)
- 內建階段校準的連接器,提供即插即用的電子設備,可互換使用,最大限度減少系統停機時間
- 使用者可配置設定,以優化不同樣本質量、尺寸及性能需求。使用者只需選擇最適合其應用的設定
- 測試證明可運行超過 1000 萬次全範圍循環
技術規格
SPECIFICATIONS >> NanoScan SP Z 系列
產品代碼 | SP200 | SP400 | SP600 | SP800 |
---|---|---|---|---|
軸向 | Z | Z | Z | Z |
範圍 | 200 µm | 400 µm | 600 µm | 800 µm |
位置噪音 | 0.7 nm | 0.7 nm | 0.7 nm | 1.23 nm |
重複性 | 3 nm | 3 nm | 3 nm | 3 nm |
線性度 | 0.2% | 0.2% | 0.2% | 0.2% |
一步解決 | 8 ms | 8 ms | 9 ms | 10 ms |
材料 | 鋁/不銹鋼 | 鋁/不銹鋼 | 鋁/不銹鋼 | 鋁/不銹鋼 |
尺寸(長 x 寬 x 高) | 260×164×13.7 mm | 260×164×13.7 mm | 260×164×13.7 mm | 260×164×13.7 mm |
配件
ACCESSORIES >> NanoScan SP Z 系列
- QGSP301XR SP 多孔支架 XR
- QGSP302XR SP 通用樣品架 XR
- QGSP303XR SP 單滑桿支架適用於 1"x3" 和 2"x3" XR
- QG-UNIV-DISH-35mm 皿架底座直徑 33 至 35.3mm,適用於樣品通用樣品架
- QG-UNIV-DISH-60mm 皿架底座直徑 55 至 60.3mm,適用於樣品通用樣品架