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  • 影像分析系統

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    影像分析解決方案

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      • Sphericity 球化率分析
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    • TurboScan顯微影像快速掃瞄系統
    • 自動化顯微拍照拼圖控制系統
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    • LED瑕疪檢測影像分析系統
    • TS-Link.net 影像量測軟體
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    Packages for Image Analysis

    Image-Pro® AI
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    Image-Pro® AI
    Materials Science

     

    2D Measure Module
    AI Deep Learning

    2D Measure Module
    Analysis Protocols

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  • 光電特性量測

    TOPCON 輝度/照度量測產品

    • 2D分光式色彩輝度計(SR-5000)
      • SR-5100 2D 分光式色彩輝度計
      • SR-5000 2D 分光式色彩輝度計
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    • 色彩輝度計(BM)
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      • BM-9A 手持式輝度計
    • 全面式輝度色度量測儀(UA)
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      • UA-10A 2D色彩輝度計
      • UA-20C 2D色彩輝度計
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    APACER 輝度/照度量測產品

    • 分光色彩輝度計(AL)
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      • Ai30S 分光照度計
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    PRIOR顯微鏡整合方案

    • 正立顯微鏡專用電動載物台
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      • ProScan H105 電動平台 | 6" Wafer
      • ProScan H105F 電動平台 | 6" Wafer
      • ProScan H116 電動平台 | 8" Wafer
      • ProScan H116SPN 電動平台 | 8" Wafer
      • ProScan HWL6AL12 電動平台 | 8" Wafer
      • ProScan H112 電動平台 | 12" Wafer
      • ProScan H138A 玻片掃描專用電動平台
      • ProScan HT1111LC 硬度機專用電動平台
      • OptiScan ES111 電動平台 | 經濟型
    • 倒立顯微鏡專用電動載物台
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      • ProScan H117 電動平台
      • OptiScan ES107 電動平台 | 經濟型
    • 電生理與神經科學專用平台
      • 　　　──　XYZ Deck 電生理學專用平台　──　　　
      • H189 高精度XYZ電動平台
      • HZ106KT1 高精度XYZ電動平台
      • HZ106KT1E 高精度XYZ電動平台
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    • Z軸對焦裝置
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      • NanoScan OP400 壓電式物鏡對焦部件
      • NanoScan OP800 壓電式物鏡對焦部件
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      • FB203 Z軸電動調焦機構 - 38mm
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      • FB206 Z軸電動調焦機構 - 38mm
      • FB210 Z軸電動調焦機構 - 50mm
      • FB212 Z軸電動調焦機構 - 50mm
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    • 雷射自動對焦系統
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    • 控制器與搖桿
      • ProScan III 高階精密儀器控制器
      • OptiScan III 基本型三軸電動平台控制器
      • ES10ZE 單軸對焦控制器
      • CS200系列 搖桿與觸控螢幕
    • 電控濾光片轉盤與光閘
      • HF108 快速濾片轉盤
      • HF110 快速濾片轉盤
      • HF108IX3 快速濾片轉盤
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      • HF202HT 高速光閘
    • 顯微鏡光源系統
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    Queensgate奈米級定位設備

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      • NPS-X-15A/NPS-X-15B 薄型壓電平台
      • NPS-X-28C 超快壓電平台 (Titanium)
      • NPS-Z-15A 超低漂移壓電平台
      • SP Mini-500 超緊湊長距離壓電平台
      • NPS-XY-100A 雙軸壓電平台(Super Invar)
      • NPS-XY-100D 雙軸壓電平台(Aluminum)
      • NPS-TG-7A 快速傾斜壓電平台
      • NanoScan OP400 壓電物鏡定位器/掃描器
      • NanoScan OP800 壓電物鏡掃描器
      • NanoScan SP 壓電樣品定位器/掃描器
    • 高精度壓電致動器和轉換器
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      • DPT-E 閉迴路壓電致動器
      • NX系列 奈米傳感器
      • NC系列 奈米傳感器
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Sample Holders | For H105 Stages | Prior Scientific

Prior H105 顯微鏡電動平台專用治具

Rotatable Wafer Chuck, Glass plate, Aluminum plate & Spring loaded

 

 
產品項目
Prior-H231NL Prior-H231 Prior-H227

H231NL

Aluminum plate

(H105 stages)

H231

Aluminum plate

(H105 stages)

H227

Glass plate

(H105 Stages)

 

  
Prior-HWC15SNL Prior-HWC15V Prior-HWC15VNL

HWC15SNL

Rotatable Wafer Chuck

(H105 stages)

HWC15V

Rotatable wafer chuck

(H105 stages)

HWC15VNL

Rotatable wafer chuck

(H105 stages)

 

    
Prior-H143 Prior-H146 Prior-HWC15V

 H143

Spring loaded wafer chuck

(H105F stages)

 H146

Spring loaded wafer chuck

(H105 stages)

HWC15V

Wafer chuck

(H105 stages)
 
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