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    Packages for Image Analysis

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    Image-Pro® AI
    Materials Science

     

    2D Measure Module
    AI Deep Learning

    2D Measure Module
    Analysis Protocols

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  • 光電特性量測

    TOPCON 輝度/照度量測產品

    • 2D分光式色彩輝度計(SR-5000)
      • SR-5100 2D 分光式色彩輝度計
      • SR-5000 2D 分光式色彩輝度計
    • 分光式色彩輝度計(SR)
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    • 色彩輝度計(BM)
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    APACER 輝度/照度量測產品

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      • ProScan H105F 電動平台 (6" Wafer)
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      • OptiScan ES111 電動平台 (經濟型)
    • 倒立顯微鏡專用電動載物台
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      • ProScan H117 電動平台
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      • 　　　──　Z Deck 電生理學專用平台　──　　　
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      • FB206 Z軸電動調焦機構 - 38mm
      • FB210 Z軸電動調焦機構 - 50mm
      • FB212 Z軸電動調焦機構 - 50mm
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    • 雷射自動對焦系統
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      • OptiScan III 基本型三軸電動平台控制器
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      • CS200系列 搖桿與觸控螢幕
    • 電控濾光片轉盤與光閘
      • HF108 快速濾片轉盤
      • HF110 快速濾片轉盤
      • HF108IX3 快速濾片轉盤
      • HF6NTK Nikon Ti2專用濾光鏡組轉盤
      • HF202HT 高速光閘
    • 顯微鏡光源系統
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    Queensgate奈米級定位設備

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      • DPT-E 閉迴路壓電致動器
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  3. H112 電動載物台專用治具

Sample Holders for H112 Wafer Stages | Prior Scientific

H112 電動載物台專用治具

Aluminum plate, Glass plate & Wafer chuck

 

 
產品項目
Prior-H233 Prior-H221 Prior-HWC30S

H233

Aluminum plate

(H112 stages)

H221

Glass plate

(H112 stages)

HWC30S

Rotatable wafer chuck

(H112 stages)

 

  
Prior-HWC30V Prior-HWC112  

HWC30V

Rotatable wafer chuck

(H112 stages)

HWC112

Wafer chuck

(H112 stages)

 
 
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