Topcon SR-LEDH 分光輝度計

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產品介紹

INTRODUCTION >> TOPCON SR-LEDH

本產品具有測定條件自動化功能的FIX模式，僅需0.4秒即能完成對同類樣品的測定，非常適合於必須超高速測定的出廠檢驗之類的產線檢查作業。

本產品適合於近年來需求不斷擴大的LCD背光、新一代照明所使用的LED模組的產線、品質管理之用。

產品特色

FEATURES >> TOPCON SR-LEDH

搭載LAN網絡功能，實現生產線所必須的超高速測定傳送速度（約0.4秒）
採用新型光學系統，減少了測定角內的靈敏度的不均勻性。
超薄機身設計，適合搭載自動測量機台，在產線上使用。
標準配置SDK軟體開發包。

* 軟體開發包

方便客戶自行編寫LAN通信軟件時所使用的SDK開發包。由header文件、程序庫、抽樣程序等組成。調出所提供的模組程序庫函數後，無需考慮網絡程序和通信協議，即可進行軟件的開發。此外，無需使用SDK，可通過客戶自行開發的應用軟件，依靠通信協議，由同一網絡內的其他電腦來控制，也可以用1台電腦來控制多台本產品。

主要用途

PRINCIPAL USE >> TOPCON SR-LEDH

LED背光、LED照明的輝度、色度、色溫度及顯色性評價。
LCD、OLED以及顯示器等的輝度、色度、色溫度等光學特性評價。
車載頭燈、尾燈、以及LED照明的輝度、色度的高精度測定。
作為光學特性評價探頭，搭載於各類自動測量機台上

技術規格

SPECIFICATIONS >> TOPCON SR-LEDH

感光元件	電子冷卻型線性陣列傳感器
波長分散原理	衍射光柵
光學系統	對物鏡: f= 82mm F2.5, 目鏡: 觀測視野5°
測量角	2°/1°/對焦專用 *電動切換式
測量距離	350mm - ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離)
光譜波寬	6nm ~ 9nm (半波寬)
波長精度	±0.3nm *Hg 光譜線上
測量波長范圍	380～780nm
波長分解能力	1nm
測量模式	自動/手動(積分時間/頻率) / FIX
測量內容	分光輻射亮度： W・sr^-1･m^-2･nm^-1
測量功能	輻射亮度 Le : W・sr^-1m^-2、輝度 Lv : cd･m^-2 CIE1931 色度座標 xy、CIE1976 色度座標 u'v' 三刺激値XYZ、相關色溫度(Tc;k)、偏差(duv)、CIE 顏色系統 2° / 10°
輝度測量範圍^(1)(2)	2.0°: 10 - 1,500,000cd/m² 1.0°: 30 - 4,500,000cd/m²
輝度精度^(*1)	±2%以内
色度精度(x,y)^(*1)	±0.002
重複精度：輝度^(*3)	2°: 0.3% (10cd/m² 以上), 1°: 0.3% (30cd/m² 以上)
重複精度：色度^(*4)	2°: 0.0005 (10cd/m² 以上), 1°: 0.0005 (30cd/m² 以上)
偏光特性	輝度　1％以下　分光放射輝度　5％以下（400～780nm）
測定時間^(*5)	約0.4秒
界面	LAN^(*6)/ RS-232C
電源	專用AC 電源適配器 AC100V-240V (50/60Hz) DC12V
功率	約33W
使用條件	溫度: 5 - 30℃, 濕度: 80%RH 以下 (且無凝露)
外形尺寸(W×D×H)	98×413×231.5mm
重量	5.3kg

*1 針對標準A光源
*2 Normal/High speed模式測定時的測定範圍
*3 測定角 2°，連續測量10次 2σ，NORMAL SPEED模式
*4 測定角 2°，連續10次測量（最大值-最小值），NORMAL SPEED模式
*5 測定角 2°，積分時間100ms、高速測定模式、LAN(STB指令)、測色模式時
*6 TCP /IP、Ethernet 10/100BASE-TX對應